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半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)_陜西天士立科技研發(fā)生產(chǎn)_平替T3Ster_Phase11熱特性測(cè)試儀

 
 
單價(jià) 985000.00 / 套對(duì)比
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庫存 99套起訂1套
品牌 天士立
品牌 天士立
溫度范圍 -35℃~180℃
型號(hào) ST-HeatX
過期 長期有效
更新 2024-11-01 14:04
 

陜西天士立科技有限公司

企業(yè)會(huì)員第1年
聯(lián)系電話:13186093180 所在區(qū)域:陜西 西安市 經(jīng)營范圍:軟件開發(fā),技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣;半導(dǎo)體器件專用設(shè)備制造;
企業(yè)信息未認(rèn)證
詳細(xì)說明

半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)_陜西天士立科技研發(fā)生產(chǎn)_平替T3Ster_Phase11熱特性測(cè)試儀。產(chǎn)品符合JESD 51-1、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn),用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

 

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的產(chǎn)品特點(diǎn)

超高精度:溫度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz變頻采樣:

技術(shù)領(lǐng)先:第三代瞬態(tài)熱測(cè)試技術(shù),可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)進(jìn)行熱結(jié)構(gòu)分析

行業(yè)領(lǐng)先:具備4路高速高精度采集模塊,采樣速度,精度均達(dá)到行業(yè)頂尖水平

架構(gòu)領(lǐng)先:采用B/S架構(gòu)控制系統(tǒng)、可遠(yuǎn)程對(duì)設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)控和控制,實(shí)現(xiàn)智能化;

瞬態(tài)監(jiān)測(cè):連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結(jié)溫變化,同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)數(shù)據(jù);

NPS技術(shù):同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)(NTC/PTC)和結(jié)溫?cái)?shù)據(jù),形成數(shù)據(jù)關(guān)系矩陣。

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的應(yīng)用場(chǎng)景

器件結(jié)殼熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

Die-Attach熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

DBC/AMB基本熱特性測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

界面熱阻測(cè)量與分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

PCB板級(jí)散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

散熱器性能測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

TIM材料熱導(dǎo)率測(cè)試ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

熱缺陷檢測(cè)ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“功能指標(biāo)”


產(chǎn)品品牌

天士立


產(chǎn)品型號(hào)

ST-HeatX


產(chǎn)品名稱

半導(dǎo)體熱特性測(cè)試系統(tǒng)


主要功能

適用于多種類型功率器件及其模組的瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出


試驗(yàn)對(duì)象

DIODE、MOSFET、IGBT/IGCTHEMT、GTOIC


試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求


試驗(yàn)?zāi)J?/span>

DIODE模式

SAT模式

IGBT模式

RDSON模式

HEMT模式


門控電源

數(shù)量 4

輸出方式 隔離輸出

輸出范圍 -10V ~ 20V

輸出誤差 0.1V + 0.5%set

分辨率 0.01V


NTC/PTC

數(shù)據(jù)同步

采集

NTC測(cè)量范圍 250kΩ ? 100Ω

PTC測(cè)量范圍 100Ω ? 250kΩ

最高采樣頻率 1MHZ

同步時(shí)間誤差 1μs


柵極漏電

測(cè)量

量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA

量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA


加熱電源

量程 30A / 10V

電流輸出誤差 0.05A + 0.1%set

電流設(shè)定分辨率 0.01A

開關(guān)速度1μs


測(cè)溫電流源

(主)

量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V

分辨率 1mA

誤差 2mA + 0.5%set


測(cè)溫電流源

(輔)

量程 0 ~ 100mA / 10V

分辨率 0.01mA

誤差 0~10mA 50μA + 0.5%set

誤差 10 ~ 100mA 0.5mA + 0.5%set


測(cè)量通道

數(shù)量 4

動(dòng)態(tài)電壓測(cè)量范圍 ±5V(差分模式)

動(dòng)態(tài)電壓測(cè)量誤差 1mV + 0.5%set

動(dòng)態(tài)電壓量程 100mV、200mV400mV、800mV

動(dòng)態(tài)電壓分辨率 1.6μV

采樣頻率 最高1MHz

采樣模式 連續(xù)變頻采樣

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“溫度系數(shù)標(biāo)定”

  

 

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“瞬態(tài)熱測(cè)試”

 

 

四、數(shù)據(jù)處理與輸出

4.1“數(shù)據(jù)處理與輸出”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

 

 

4.2、“熱模型抽取”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

 

4.3“脈沖熱阻”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

 

4.4、“安全工作區(qū)”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

 

ST-HeatX迷你版10A5V1C1P版本

 


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